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探讨工艺离子污染测试(PICT)标准圆桌会议概要
标准委员会发布了4项新测试标准中的第一项标准之后，I-Connect007于2020年4月17日召开圆桌会议，特邀几位行业专家共同探讨最近由IEC发布的工艺离子污染测试（PICT）标准。与会的专家有I ...查看更多
行业大咖发声，共同应对COVID-19疫情
IPC总裁兼CEO John Mitchell博士：COVID-19全球行业动态 3月20日，IPC总裁兼首席执行官Joh ...查看更多
如何使用数据远比拥有数据更重要
据报道，有的工厂所有机器运转良好，但工厂本身却似乎处于昏迷状态，无法满足关键的交付要求。这是一场偶尔会出现的噩梦，还是每天都会发生的状况？为了解决这种状况，一些经理要求在自动化方面进一步投资，而另一些 ...查看更多
行业大咖发声，共同应对COVID-19疫情
IPC总裁兼CEO John Mitchell博士：COVID-19全球行业动态 3月20日，IPC总裁兼首席执行官J ...查看更多
元器件小型化及贴装高密度化推动AOI的创新与协作
工业4.0简述 大数据是工业4.0的基础，因此先进的检测系统必须从简单的 “合格/不合格”判定工具发展为高度直观、动态的决策系统，尤其突出的是对可靠、可追溯数据的需求。人工智 ...查看更多
【PCB工程】数字孪生技术应对尺寸微型化
至少在电子制造领域，产品是越小越好。多年来，驱使电子组件体积不断变小的原因有很多，而且这种趋势丝毫没有减退的迹象。电子产品制造商所要付出的代价并非微不足道，因为组装、检验、测试和质控的 ...查看更多
